在全国质检科技工作会议上， 我院材质中心吴立敏同志荣获 ‘科技兴检’先进工作者称号。

　　希望全体干部职工要以受表彰的科技工作者为榜样，坚持科学发展观，大力实践“科技兴检”战略，围绕国家重大科技攻关和质检科技发展重点，团结协作、开拓创新、锐意进取、扎实工作，努力为质检科技工作作出应有的贡献。

　　吴立敏同志简要事迹

　　吴立敏同志从事材料物性的计量与测试标准化工作已17年。随纳米技术的兴起，科研工作的重点为纳米的计量表征技术和标准化，该同志先后主持了上海市科委纳米专项、上海市技术监督局等项目10多项；研究成果涉及3项国家标准、1项地方标准、5项国家二级标准物质等，其中开展的“纳米、亚微米颗粒粒度的测量——光子相关光谱法”、“纳米颗粒粒度分析标准测量系统的建立”、“纳米/亚微米测量方法研究及标准颗粒测量系统的建立”等项目研究，先后获得2003年度、2005年度、2009年度上海市标准化优秀学术成果、优秀科技成果一、二等奖，2006年度上海市科学技术进步二等奖，2007年度国家质检总局科技兴检奖三等奖。在纳米的标准化技术研究领域中已有一定的社会影响，建立了相当的权威性，受聘为全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会委员、中国颗粒学会理事、上海市颗粒学会理事。

　　在院纳米专项的筹建工作中，该同志作为学科带头人，协助院规划纳米标准化研究方向、纳米计量与检测实验室的筹备与实施工作，经近十年的积累，已建立起一套完善的科研与计量检测的团队，至今申请国家与地方项目数十项，并将科研成果转化为检测技术，广泛地服务于其它研究院所、高校、世界500强等企业，在纳米计量检测领域中独树一帜。

　　一直以来，该同志立足于标准化科研工作，凭着对事业的热爱和执著追求，以务实的工作作风，在纳米领域的计量、测试、质量监督的工作中做出了一些卓有成效的工作，填补了国内该领域中多项技术空白，相关科研成果更是以科学性、时效性被广泛推广应用。

　　吴立敏同志主要科研成果：

　　1.     国家标准《GB/T19627 2005粒度分析—光子相关光谱法》的制订（排名1）；

　　2.     国家标准《GB/T 20099-2006样品制备—粉末在液体中的分散过程》的制订（排名4）；

　　3.     国家标准《粒度分析  液体重力沉降法—第一部分：通则》的制订（已报批）（排名1）；

　　4.     国家标准《粒度分析  电阻法》的制订（在研）（排名1）；

　　5.     国家二级标准物质GBW（E）130275-9比表面积标准物质的研制（排名1）；

　　6.     上海市地方计量校准规范《JJF（沪）4-2006光子相关光谱法粒度分析仪校准规范》的制订（排名1）；

　　7.     《纳米颗粒粒度分析标准测量系统的建立》（上海市科委纳米专项）（排名1）；

　　8.     《系列微米级固体颗粒度标准物质的研制》（上海市质量技术监督局项目）（排名1）；

　　9.     发明专利200910200586.5（已进入实审阶段）：一种用于电阻法粒度分析中固体颗粒计数有效性的测量方法（排名1）；

　　10. 发明专利200910201325.5（已进入实审阶段）：一种电阻法粒度分析仪固体颗粒粒径校准系数的测量方法（排名1）。

　　主要获奖情况：

　　1.     《纳米/亚微米测量方法研究及标准颗粒测量系统的建立》获上海市科学技术进步奖二等奖、国家质检总局“科技兴检奖” 三等奖（排名2）；

　　2.     《比表面积标准物质系列的研制》获上海市质量技术监督局优秀科技成果（排名1）；

　　3.     《纳米颗粒粒度分析标准测量系统的建立》获上海市标准化优秀技术成果一等奖（排名1）；

　　4.     《纳米、亚微米颗粒粒度的测量-光子相关光谱法》获上海市标准化优秀学术成果二等奖（排名1）。

　　主要论著：

　　1.     《上海市紧缺人才培训工程：纳米测试》第七、八章

　　2.     微米级固体颗粒度标准物质系列的研制，计量学报，2009，第30卷，第5期（排名1）

　　3.     分散体系制备技术与典型纳米颗粒粒度分析的应用研究，中国粉体技术，2005，9（3）（排名1）

　　4.     光子相关光谱法对颗粒平均粒径测量结果的不确定度评定，理化分析，物理分册，2005，41(5) （排名1）

　　5.纳米、亚微米颗粒粒度的测量-光子相关光谱法，上海计量测试，2003，30(3)：15～18（排名1）

（科技信息处供稿）