我院作为第一技术支撑单位开展的“跨尺度微纳米测量仪的开发和应用”项目获得国家科技部批准，被列入国家重大科学仪器设备开发专项。本项目计划于2014-2018年实施，根据计划任务书，2015年的主要任务是关键传感技术的研究、纳米定位平台的研制、与仪器相匹配的标准样板的研制。为此，我院副院长吴建英带领相关技术人员于2015年10月初赴德国SIOS公司、西班牙Mettler-Toledo公司开展技术交流。

    德国SIOS公司主要产品为单频激光干涉测量系统，与市场上多种双频激光干涉仪产品相比，具有体积紧凑、信号处理快速等优点。其特有的三光束平面干涉仪用于可垂直方向定位精度的检测和校准，具有较高分辨率和准确度，在微纳米几何量测量中具有溯源性。在SIOS公司参访一行中，双方对产品所能达到的技术指标、原理、主要技术等进行了深入的探讨。此外，还深入SIOS公司的测量实验室，针对纳米测量机、三光束长行程激光干涉测量系统等多套设备及相关技术问题进行了详细的讨论，并探讨新型高精度定位平台研制中的相关技术问题。此次交流为本院仪器专项项目中纳米测量机的研制、定位平台技术的研究以及干涉测量方案的选择提供了许多新的思路，也为双方未来开展合作奠定了基础。

    西班牙梅特勒-托利多（Mettler-Toledo）公司是全球领先的精密仪器及衡器制造商，其产品应用于工业称重、食品及药物安全x光扫描、运输过程在线测量、气体测量等多种场合。该公司拥有自己的校准实验室，具备ILAC-MRA、ENAC等多级计量资质认证。通过观看相应产品的校准演示，讨论相应的量值溯源框架，以及探讨产品工程化等相关问题，让技术人员学习到了优秀的产品管理制度，以及更好地控制项目进度、保证产品的可靠性及稳定性的方式方法，对我院未来仪器专项中仪器的研制及工程化、产业化进程都具有很高的参考价值。