High-Revolution Transmission Electron Microscope (HRTEM)

品牌型号
      Tecnai G² F20 S-TWIN

仪器简介
      Tecnai G² F20 S-TWIN是由FEI公司新开发的真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SAD、STEM、EDX频谱成像等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。由于采用高发射电流Schotty场发射电子枪，拍摄到的图像具有亮度高，稳定性好的特点。任务导向型用户工作界面（Windows2000）和自动采集数据功能使得用户在轻松的环境下工作。同时FEI公司为Tecnai G² F20 S-TWIN系统的功能升级作好了充分的准备，以保证用户方便快速地进行更先进的数据采集。

应用范围：
      ※ 形貌像分析；
      ※ 电子衍射图像分析；
      ※ HRTEM 高分辨像；
      ※ EDX能谱分析。

主要应用：
      对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、定量及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域
      ※ 对材料进行高分辨电子显微学研究
      ※ 粉末、微粒纳米样品形态和粒度的测定
      ※ 金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析
      ※ 材料中元素定性分析、定量分析

主要技术参数：
      ※ 最大加速电压: 200 KV
      ※ 放大倍数: X50～1100,000
      ※ 点分辨率: 0.24 nm
      ※ 晶格分辨率: 0.102 nm
      ※ 样品倾斜角度X/Y：±40º
      ※ 能谱能量分辨率：136 ev
      ※ 元素检测范围：B～U元素

配套服务
      ※ 圆片冲孔机(Gatan)
      ※ 601型超声波圆片切割机(Gatan)
      ※ 623圆片研磨机(Gatan)
      ※ 656凹坑研磨仪(Gatan)
      ※ 691精密离子减薄仪(Gatan)
      ※ tenupol-5双喷减薄仪(Struers)