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比表面积和孔隙度分析仪
Surface Area and Porosimetry analyzer
品牌型号:
Micromeritics / ASAP2020
简介:
※ 借助于气体吸附原理(典型为氮气)可进行等温吸附和脱附分析,用于确定比表面积,微孔孔体积和孔面积,中孔体积和面积,总孔体积等。
※ 适用于各种材料的研究与产品测试,包括测量沸石,碳材料,分子筛,二氧化硅,氧化铝,土壤,黏土,有机金属化合物骨架结构等各种材料。
※ 可同时进行一个样品的分析和两个样品的制备。
※ 六路气体进气口,可进行氮气、氪气等气体吸附。
※ 数据处理方法:
● 单点和多点BET比表面积, Langmuir比表面积
● Temkin and Freundlich等温线分析
● 多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布
● 孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积
● MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积
● f-Ratio plots,D-R,D-A
● H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)
● DFT密度函数理论,包括NLDFT等
技术指标:
※ 比表面积测量范围:> 0.0005m2
※ 孔径分析范围:3.5-5000A,微孔区段的分辨率为0.2 埃 ,孔体积最小检测:0.0001 cc/g
测量依据:
※ ISO 9277 Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption using the BET method
※ ISO 5901-2 Pore size distribution and porosimetry of materials -- Evaluation by mercury posimetry and gas adsorption -- Part 2: Analysis of meso-pores and macro-pores by gas adsorption
※ ISO 15901-3 Pore Size Distribution and Porosity of solid materials by Mercury Porosimetry and Gas AdsorptionPart3: Analysis of Micro-pores by Gas Adsorption
光子相关光谱法粒度分析和Zeta电位测量仪
Photon correlation spectroscopy particle size and Zeta potential analyzer (PCS)
品牌型号:
BROOKHAVEN / BI90 Plus
技术指标:
测量范围: <1 nm to >6 µm depending on refractive index, concentration and scattering angle 1nm~6μ m
Precision精度 ±1% typically. ±1%(单分散体系)
Sample Type:样品类型: 纳米、亚微米尺度颗粒、乳化液、Most colloidal (nano) materials, suspended in any clear liquid.胶体
Sample Volume:样本量: 1 to 3 mL. 1~3毫升
Temperature Control:温度控制: 6° C to 100°C, ± 0.1° C, active control. 6~100°C,温控精度± 0.1°C No external circulator requir
Laser:激光光源: 35 mW, solid state, standard. 35兆瓦
Scattering Angles:散射角度: 15° & 90° 15°及90°
测量结果Data Presentation:: Average & width, lognormal fit and multimodal size distribution standard.平均粒径、多分散指数
应用简介:
※ 纳米材料、胶体、乳化液的粒度分析
※ Zeta电位的测量,Zeta电位可以很好地反映颗粒间作用强度,从而可用来预测胶体系统的稳定性。分散体系的Zeta电位会因为Ph值、电导率、添加剂和颗粒表面的变化而改变。
测量依据:
ISO 13321 Particle size analysis-Photon correlation spectroscopy
测量原理:
悬浮于液体中的颗粒不停地作布朗运动,其运动的强度反映了颗粒的大小,相同条件下,大颗粒的布朗运动缓慢,而小颗粒的布朗运动剧烈;当光束照射到颗粒上时,产生散射光,散射光的强度随时间而波动,检测器记录这一系列随时间而波动的散射光强度,并传送至相关器,得到一个与时间相关的散射光的曲线,分析这个相关曲线就可以得到相关的粒度信息。
激光衍射法粒度分析仪
Laser diffraction particle size analyzer
品牌型号
Malvern / MS 2000
仪器简介:
※ 粒度范围:0.02~2000 微米
※ 测量原理:米氏散射理论
※ 检测系统:红光:前向散射、侧向散射和背向散射
蓝光:大角度和背向散射
※ 光源:红光:氦氖激光
蓝光:固态光源
※ 光学校准系统:自动化快速校准系统,具有暗场光学标线和多元对准检测器
※ 多种样品分散系统
应用范围:
※ 适用于乳化液、悬浮液、粉末类样品的粒度分布测量。
※ 配备有多种样品分散系统,可适用于常规样品、微量样品、干法样品分散、有机溶剂样品分散等。
※ 可得到粒度分布数据、图谱,各种统计粒径如D10、D50(中位径)、D90、D4,3(平均粒径)等。
测量原理:
激光衍射(Laser diffraction)技术开始于小角散射,也称为夫琅和费衍射法(Fraunhofer diffraction)、正向光散射法(Forward light scattering)、小角度激光衍射法(Low-angle laser light scattering)。
颗粒以适当浓度分散在样品池中,使其通过单色光束,光遇到颗粒后产生各种角度散射,散射光强度取决于颗粒的大小,由多元探测器测量这些散射光,并记录,以适当的光学模型和数学程序转化记录的散射光数据,计算某一粒度颗粒相对于总体积的百分比,从而求出粒度体积分布。
技术指标:
※ 测量范围: 0.02µm~2000µm
※ Dv50测量的准确度: <1%
※ Dv50测量的重复性: <1%
测量依据:
ISO13320-1 Particle size analysis-Laser diffraction method