【姓 名】: | 李源 |
【职 务】: | 无 |
【职 称】: | 教授级高工 |
【专业领域】: | 微纳米测试与计量 |
【基本介绍】: | 毕业于天津大学精密仪器与光电子工程学院,分别获得学士(测控技术及仪器)、硕士(测试计量技术及仪器)和博士学位(测试计量技术及仪器)。 2007年起就职于上海市计量测试技术研究院,兼任全国微束分析标准化委员会扫描探针显微镜标准化工作组(SAC TC38/SC2/WG1)秘书长、中国仪器仪表学会测量与控制分会常务理事。是上海市质监局第三届学术带头人、上海市质监局微纳米计量与仪器研发创新团队负责人。 在微纳米测量仪器开发与应用、微纳米标准及溯源方法研究、微纳米器件相关研究等重点领域,发表高水平学术论文多篇,承担10余项国家和省部级科研项目,取得多项具有国际先进水平的研究成果,并直接应用于半导体和先进制造等工业领域,形成10项已授权的国家专利、1项国家标准、1项国家校准规范,获得省部级科学技术奖励5项。 |