日前，我院专家李金龙受邀作为“EMC&IME 2025国际电磁兼容、微波天线及材料展览会”演讲嘉宾参加电磁兼容技术论坛，作题为《集成电路的电磁兼容问题分析与测试技术》技术报告。

该报告从集成电路电磁发射及受电磁干扰机理、发展趋势以及解决措施等方面分析集成电路电磁兼容问题。并从国内外标准体系及进展、常用测试项目的方法及原理、测试案例及技术特色等方面，详细介绍我院在集成电路电磁兼容测试方面技术能力与业务服务优势，吸引现场多家芯片研发企业与我院达成初步合作意向。

2023年3月，我院建立集成电路电磁兼容（IC EMC）测试能力，目前已覆盖IC EMC全部通用测试能力，包括电磁发射（IEC 61967系列）、电磁抗扰度（IEC 62132系列）及非同步瞬态注入法（IEC 62215-3），先后参与制定相关国家标准十余项，为长三角地区众多芯片研发企业提供优质测试技术服务。下一步，我院将持续跟踪国际标准化与测试技术前沿，紧密对接企业测试需求，不断提升测试技术能力、优化服务水平，为我国重点产业高质量发展提供更有力支撑。